METODĂ DE MĂSURARE A IMPEDANŢEI STRUCTURILOR DE CIRCUIT PE METAMATERIALE CU AJUTORUL TRONSOANELOR DE LINIE ÎN SCURTCIRCUIT SAU ÎN GOL

Price not visible for this package

Interest:

Assignment

Publication info:

No.: RO128162

Date: 28.02.2013

Inventor(s):

GHEORGHE IOAN SAJIN [RO]

VOICU MARIUS ANDREI [RO]

CARP MIHAELA [RO]

Applicant(s):
INST NAT CERCETARE DEZVOLTARE [RO]
Classification:
International patent classification (IPC):
G01R27/16; H01Q23/00

Cooperative patent classification (CPC):
Application info:
No.: RO20110000743
Date: 28.07.2011
Priority number(s):
RO20110000743 28.07.2011
BOPI:
Description:

Invenţia se referă la o metodă de măsurare a impedanţei structurilor de circuit pe metamateriale cu ajutorul tronsoanelor de linie în scurtcircuit sau în gol. Metoda conform invenţiei implică utilizarea unui montaj format dintr-un generator de frecvenţe foarte înalte, microunde sau unde milimetrice, în combinaţie cu o instalaţie de caracterizare pe plachetă a circuitelor şi dispozitivelor planare, cu ajutorul căreia se determină experimental punctul de inserţie şi lungimea tronsonului de linie în gol care adaptează structura de circuit CRLH (Composite Right/Left Handed) de măsurat la impedanţa caracteristică Za circuitului de frecvenţă foarte înaltă, valorile părţilor rezistivă şi reactivă ale impedanţei necunoscute, care se doreşte a fi măsurată, fiind determinate prin calcule cu ajutorul unor relaţii deduse din teoria liniilor de transmisiune.