Description:

Invenţia se referă la o metodă şi la un senzor pentru un microscop cu scanarea probei SPM, care permite realizarea unui mod în microscopia de forţă atomică AFM, asigurând măsurarea directă a forţelor de interacţiune dintre o probă şi un eşantion. Senzorul conform invenţiei asigură realizarea unui mod AFM prin intermediul unui scaner (1) tridimensional, de care este ataşată o probă (2) în interacţiune cu un eşantionx20;(3) care este depus pe unul dintre electrozii unui cristal de cuarţ, numit senzor (5), iar un bloc (6) de detecţie asigură un semnal ce reprezintă valoarea asociată măsurării unui parametru al cristalului de cuarţ utilizat de un sistem (7) de control AFM. Metoda conform invenţiei asigură controlul scanerului (1) tridimensional şi vizualizarea topografiei eşantionului (3) sau a parametrilor mecanici caracteristici eşantionului (3) în mod contact, repulsie, sau în mod non-contact, atracţie.