DISPOZITIV/MONTAJ OPTOELECTRONIC ŞI PROCEDEU PENTRU ANALIZA STRATIGRAFICĂ A COMPOZIŢIEI CHIMICE A MATERIALULUI STRATURILOR SUPERFICIALE OBIECTELOR DE ARTĂ CU TEHNICĂ LIBS

Price not visible for this package

Interest:

Assignment

Publication info:

No.: RO125260

Date: 26.02.2010

Inventor(s):

STRIBER JOAKIM [RO]

ANGHELUŢĂ MARIAN LAURENŢIU [RO]

RADVAN ROXANA [RO]

SIMILEANU MONICA [RO]

SAVASTRU ROXANA [RO]

Applicant(s):
INSTITUTUL NAT DE CERCETARE DEZVOLTARE PENTRU OPTOELECTRONICA INOE 2000 [RO]
Classification:
International patent classification (IPC):
G01N21/00; G01N21/71

Cooperative patent classification (CPC):
Application info:
No.: RO20080000358
Date: 14.05.2008
Priority number(s):
RO20080000358 14.05.2008
Related patents:
RO125260
BOPI:
Description:

Invenţia se referă la un dispozitiv optoelectronic şi la un procedeu pentru analiza stratigrafică a materialului straturilor superficiale ale unui obiect de artă. Dispozitivul optoelectronic, conform invenţiei, este alcătuit dintr-o sursă de iradiere (1) constând dintr-un laser cu YAG:Nd, nişte lentile (2) de focalizare a fasciculului laser într-un anumit punct de pe suprafaţa unui obiect de studiat, un colector optic (3), un spectrograf (5) şi un senzor ICCD (6), puse în legătură cu un computer (7). Procedeul pentru analiza stratigrafică, conform invenţiei, constă în aplicarea de pulsuri laser într-un anumit punct de pe suprafaţa unui obiect de studiat, pentru a induce un proces de ablaţie, sub forma unui nor de plasmă, care emite în toate direcţiile linii spectrale ce sunt culese de uncolector optic şi transmise, prin fibră optică, unui spectrograf şi unui senzor ICCD, şi apoi unui computer prevăzut cu un software de analiză a liniilor spectrale şi de identificare a liniilor de emisie ionică şi atomică, caracteristice elementelor prezente în materialul iradiat.